Infraestructura

Contamos con el equipamiento básico de metrología, así como con sistemas de avanzados de medición por visión, escaner laser y medición por coordenadas.

Intrumentos básicos

Calibres y lainas
Calibradores vernier analógicos y dígitales
Micrómetros para diferentes aplicaciones
Escuadras fijas y universales

Medición por visión

Sistema de medidicón por visión SWIFT
Microscopio de taller
Comparador óptico

Análisis de tolerancias

Sistema de medición por coordenadas portátil (MMCP) para: inspección, verificación de piezas, inspección de tolerancias dimensionales y geometricas e ingeniería inversa.

Inspección y control

Rugosímetro
Equipo para control estadistico